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JEM-2100Plus 穿透式電子顯微鏡EDS教育訓練講習

2019/11/13 (三)- JEM-2100Plus穿透式電子顯微鏡EDS教育訓練講習 (The application of EDS for JEM-2100Plus transmission electron microscope)
介紹:
穿透式電子顯微鏡JEM2100plus可透過高能量電子束穿過超薄樣品,來獲得高解析度影像,並可同時搭配STEM功能 (掃描穿透式電子顯微技術),初步分析金屬等材料或生物樣品表面結構。根據STEM明暗場影像變化,配合EDS(能量色散X射線譜)可再進一步提供單點元素組成及區域元素二維分佈圖等資訊。

歡迎全校師生一同參與EDS相關演講及實作訓練,軟體操作報名人數有限 (一個時段為5人),敬請提早報名,謝謝!

■STEM及EDS的原理及應用 (口頭報告)
日 期: 2019/11/13(三)
時 間:10:30-12:00
地 點:第二醫學大樓B1樓 會議室二
演 講 者:捷東公司 應用工程部經理 洪英傑先生

■EDS AZtec軟體操作 (EDS elemental analysis by Aztec software, English presentation)
日 期: 2019/11/13(三)
地 點:長庚大學4F顯微鏡中心

報名地址: https://docs.google.com/forms/d/1bj6pS9-f554NQKEo8T7EVd8P0EnugEcFerW_KmGXTtM/edit


聯絡人:何婉禎,分 機: 5065
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