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Leica TEM樣品製作

電子顯微鏡分析的基準樣品製備工作流程

電子顯微鏡分析的基準樣品製備工作流程
Benchmarking sample preparation workflows for electron microscopy analysis

日期: 108年10月30日(星期三)
時間: 上午10:00-12:00
地點: 長庚大學第二醫學大樓B1 會議室二
主講: Leica microsystem 總代理 友聯光學有限公司 林少軒 業務專員

邀請有興趣的同仁撥空前往,場次有限,敬請提早報名
詳細場次,請參考海報及報名網站,謝謝!

報名網址:https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSfL7E4bzA8-Nm0n3DkrSePN1Aul__kjv5or5ppuXhzkbSdrzA/viewform

友聯光學有限公司
Phone : +886-2-2698-0508
0932-273-034
e-mail : mark361465@gmail.com
https://www.leica-microsystems.com/

聯絡人: 彭及龍,分機 5065
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