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顯微鏡中心海報

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長庚大學場放射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) 使用須知
場放射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) 使用須知

1、樣品需乾燥,且在真空中無揮發性。(樣品最好加熱烘烤後,再置入試片室中)
2、樣品需導電,不導電之樣品需經鍍碳或鍍金處理。
3、粉末樣品請黏貼壓實於碳膠帶上,再用氣槍或吹球將未附著的粉末吹掉,經鍍金後再置入試片室中。
4、為維持真空度,樣品不得有在電子束照射下會分解、釋放氣體或成為液體之特性。
5、為避免造成損壞,本儀器拒絕受理具磁性(如鐵、鈷、鎳等)或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料。
6、為避免造成損壞,本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性、低熔點之樣品。
7、為避免儀器電腦中毒,請使用光碟燒錄電子檔。
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